ASLI芯片高压加速老化试验箱

　　艾思荔生产的芯片高压加速老化试验箱采用自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，专利安全门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护。圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准， 可防止试验中结露滴水设计。

　　特点：

　　1.圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。

　　2.实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partical<1micorn)。以确保箱内之纯净度。

　　3.临界点LIMIT方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示。

　　4.精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h。

　　5.专利型packing，箱内压力愈大时，packing会有反压会使其与箱体更紧密结合，与传统挤压式完全不同，可延长packing寿命。

　　芯片高压加速老化试验箱产品结构：

　　1. 采用整体式组合结构形式，试验箱由位于前部的保温箱体(承压结构)、位于后部的制冷、真空机组和位于试验箱大门上的电器控制器(系统)组成

　　2. 电器控制面板置于试验箱的正面大门上便于运行操作

　　3. 制冷机组及真空机组置于独立的机箱内，以减少制冷机组运行时的震动、噪声对试验箱的影响，同时便于设备的安装和维护

　　4. 为了降低制冷真空机组运行时产生的噪音，在机箱内壁安装有用于吸音、隔音的特种海绵吸音材料，主要的运动部件均采取了防振降噪措施

　　使用条件：

　　温度：5℃～+28℃(24小时内平均温度≤28℃)

　　相对湿度：≤85%RH

　　气压：86kPa～106kPawww.pctsyj.com

　　供电条件 三相四线+保护地线，电压范围：AC(380±38)V

　　频率允许波动范围：(50±0.5)Hz

　　保护地线接地电阻小于4Ω

　　芯片高压加速老化试验箱产品用途：

　　又称为高压加速老化试验箱，主要用于航空、航天、信息、电子等领域，确定仪器仪表、电工产品、材料、零部件、设备在低气压、高温、低温单项或同时作用下的环境适应性与可靠性试验，并或同时对试件通电进行电气性能参数的测量。

　　主营产品:，高压加速老化试验箱-盐雾试验箱-高低温试验箱-高温恒温试验箱-紫外老化试验箱-氙灯老化试验箱-臭氧老化试验箱-恒温恒湿试验箱-换气式老化试验箱-砂尘试验箱-箱式淋雨试验箱-冷热冲击试验箱-振动试验台-霉菌培养箱-高温试验箱-低温试验箱-恒温试验箱-跌落试验台-三综合试验箱