半导体pct试验箱

半导体pct试验箱
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品牌：艾思荔型号：pct-35 加工定制：是

pct试验箱主要参数:
性能：hast高压加速老化试验箱操作环境需在室温30℃以下且通风良好之条件下进行.
1.温度范围:110℃/132℃.(饱和蒸气温度).
2.湿度范围:100%RH.(饱和蒸气湿度).
3.压力范围:0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制点压力(安全压力容量3.5Kg/cm2).
4.时间范围:0~999小时可调.
5.温度分布:(+/-)2.0℃.
6.升温时间:RT~132℃约35分钟内.（控制点温度）
7.加压时间:0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2约40分钟内（控制点压力）。
pct试验箱控制系统：
1.微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器.
2.本系统符合高压加速老化之可靠度试验规格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…
3.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.
4.控制方式:微电脑PID控制.
5.控制精度:(+/-)0.5℃.
6.解析精度:0.1℃.
pct试验箱结构:
pct试验箱结构形式为立式,试验箱外箱采用SUS304B发纹不锈钢板,外箱采用SUS304B镜面不锈钢板,温度控制器为日本富士数显控制器,PT100感应器,指针式压力表,内置式储水箱.该设备具有超温、欠相、缺水、压力、加热管空烧等保护装置
《所发布的各款试验设备价钱仅为象征性的展示,不能作为实际价,实际价钱以艾思荔业务员根据客户的要求所做的报价单为准》

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