扫一扫，手机浏览- ASLI半导体hast老化试验箱
详细信息
品牌：ASLI 型号：HAST-35 加工定制：是 类型：hast老化试验箱 材质：不锈钢 温度范围：100~135 ℃ 功率：见详细说明 W 工作室尺寸：350*450 mm 电源：380V 适用范围：线路板,IC封装,半导体,磁性材料, 温馨提示：
本产品报价为参考价格，仅作支持网上展示用途。
产品具体规格、价格以我司销售报价为主。
艾思荔半导体hast老化试验箱 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
半导体hast老化试验箱产品规格：
温度范围：+105.0℃~+142.9℃
湿度范围：75%~100%RH
温湿度稳定度：±0.5℃、±3℃RH
温度分布均度：±1℃
压力范围：0.2~2.0kg/cm2G（选配0.2~4.0kg/cm2G）
升温时间：室温上升140℃需约120分钟
内箱尺寸：￠45×45/￠65×60
材质：内外不锈钢板
电源：1￠220V60HZ/380V50HZ20A
半导体hast老化试验箱产品特点：
1、圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测品
2、马达驱动磁性风扇机构循环（温度/湿度分布均匀佳）
3、安全程序自动停机,自动泄压,自动破真空,自动给水
4、HAST设备本体材质SUS#316,外部包装材质SUS#304
5、电磁风扇马达循环装置湿度分布均匀
6、饱和或不饱和可程控模式
7、温度/湿度/湿球/温度/压力/电压显示
半导体hast老化试验箱详细说明
随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT（HAST）现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC（国际电工委员会）所标准化。
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广东艾思荔检测仪器有限公司
恒温恒湿试验箱,氙灯老化试验机,振动试验台,PCT高压加速试验机,冷热冲击试验箱,步入式高低温试验室,碰撞试验台,UV紫外线老化测试仪,双85试验机,淋雨试验机
ASLI半导体hast老化试验箱
产业带货源页面价格仅供参考，具体请联系报价价格 价格电议,您可以向供应商询价得到该产品价格- 产品型号：HAST-35
- 品 牌：ASLI
- 所 在 地：广东东莞
- 更新日期：2024-11-21
合计：1台总价：电议（联系我时，请说明是从谷瀑网看到的，谢谢！）店内推荐产品
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广东艾思荔检测仪器有限公司 电话：0769-22851841 手机：13826953619 地址： 东莞市东城区立新旧锡边金汇工业园内容声明：谷瀑为第三方平台及互联网信息服务提供者，谷瀑（含网站、客户端等）所展示的商品/服务的标题、价格、详情等信息内容系由店铺经营者发布，其真实性、准确性和合法性均由店铺经营者负责。谷瀑提醒您购买商品/服务前注意谨慎核实，如您对商品/服务的标题、价格、详情等任何信息有任何疑问的，请在购买前通过谷瀑与店铺经营者沟通确认；谷瀑上存在海量店铺，如您发现店铺内有任何违法/侵权信息，请在谷瀑首页底栏投诉通道进行投诉。
