- 手机芯片高低温试验箱
详细信息
品牌:ASLI/艾思荔 型号:HL-80 加工定制:是 内箱材质:不锈钢 外箱材质:不锈钢 温度控制方式:见详细说明 温度范围:-20~+150℃ 工作室尺寸:见详细说明 mm 外形尺寸:见详细说明 mm
手机芯片高低温试验箱技术参数
1.温度范围:-20℃~150℃、-40℃~150℃、-60℃~150℃
2.高温蓄热箱: 50℃~200℃
3.低温蓄冷箱: -20~10℃、-40~10℃、-60~10℃
4.温度波动度:±1℃
5.温度误差:不大于±2℃
6.预冷下限温度:≤-65℃
7.工作室冲击温度:-60℃~200℃
8.温度恢复时间:≤5min
9.本冲击试验箱符合:GJB150.3-86GJB150.4-86GJB150.5-86
10.全自动换气装置.清洁无污染
11.应用冷热风路切换方式导入试品区中,做冷热冲击测试
手机芯片高低温试验箱结构特点:
1.采用进口温控仪进行控温控湿,可编程序控制仪,可进行多种参数的设定,温湿度直接数字显示,操作方便。
2.各系统具有安全保护功能。
3.制冷系统采用进口压缩机。
4.电热式蒸汽发生加湿方式。
5.饱和气体加湿方式。
6.工作室用不锈钢制作,外箱体冷轧钢板静电喷涂。
7.外箱体采用数控机床制作,确保精度及外形美观。
手机芯片高低温试验箱符合标准:
GB5170.18高低温试验箱技术条件
GB10590-89低温/低气压试验箱技术条件;
GB15091-89高温/低气压试验箱技术条件;
GB11159-89低气压试验箱技术条件;
GB/T2423.25-1992低温/低气压综合试验箱;
GB/T2423.26-1992高温/低气压综合试验箱;
GJB150.2-86低温/低气压(高度)试验;
注:可根据用户的具体要求定做非标型高低温低气压试验室
手机芯片高低温试验箱产品用途:
手机芯片高低温试验箱又称高低温老化箱,主要用于航空、航天、信息、电子等领域,确定仪器仪表、电工产品、材料、零部件、设备在低气压、高温、低温单项或同时作用下的环境适应性与可靠性试验,并或同时对试件通电进行电气性能参数的测量。适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。 -