薄膜电容紫外线老化试验箱

　　薄膜电容紫外线老化试验箱 董S 技术参数：
　　1、型号UV-290：内形尺寸D×W×H530×1370×1350:mm(可根据客户需求定制非标产品)
　　2、温度范围：RT+10℃～70℃
　　3、湿度范围：≥95%R.H
　　4、温度均匀度：≤±2℃
　　5、温度波动度：≤±0.5℃
　　6、湿度均匀度：≤±2%R.H
　　7、黑板温度：40℃～65℃
　　8、灯管距离：35mm
　　9、样品与灯管距离：50mm
　　10、灯管功率：40W/支
　　11、辐照度范围：<50W/㎡
　　12、紫外波长：280nm～400nm
　　13、支持样板：150mm×75mm
　　14、样板数量：48块
　　15、时间设定范围：0～9999h
　　16、模拟紫外光、凝露时间可调
　　薄膜电容紫外线老化试验箱 产品特点
　　1、内外箱采用不锈钢304#;
　　2、进口数显温度表微电脑PID控制，控温准确，操作简单;
　　3、样品架采用不锈钢及铝合金制成网框，便于样品的存取
　　4、结构设计先进合理，配套产品和功能元器件都具有ling先同行的先进水平，具有防超温、超载、等系统保护，能够满足用户长期、稳定、安全、可靠的生产加工测试需求，且使用、操作、维修方便，使用寿命长，造型美观;
　　5、薄膜电容紫外线老化试验箱 符合国际测试标准：D499、D4587、D5208、G154、G53;ISO4892-3、ISO11507;EN534;prEN1062-4、BS2782;JISD0205;SAEJ2020以及GB/T14522-93所有现行紫外线老化试验标准。
　　薄膜电容紫外线老化试验箱qq:--- 基本原理：
　　自然界的阳光和湿气对材料的破坏，每年造成难以估计的经济损失。而所造成的损害主要包括褪色、发黄、变色、强度下降、脆化、氧化、亮度下降、龟裂、变模糊及粉化等。对于曝露在直接或透过玻璃窗后的阳光下的产品和材料来说，其受到光破坏影响的风险大。长期曝露在荧光灯、卤素灯或其他发光灯下的材料，同样也会受到光降解的影响。
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