• ASLI半导体pct老化试验机制造商

    详细信息

     品牌:ASLI  型号:PCT-45  加工定制:是  
     类型:PCT老化试验箱  材质:不锈钢  温度范围:100~+135 ℃ 
     功率:见详细说明 W 工作室尺寸:450*550 mm 电源:380V  
     适用范围:线路板,多层线路板,IC,CD,磁    
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    半导体pct老化试验机制造商 
    的特点:
    1、计时安装,LED数字型计时器,当锅内温度达到后计时器确保试验完全,计时从表格1驱动。  
    2Jing准的压力,温度表随时显示锅内压力与温度,Jing准压力+0、2~2、0kg/cm2、  
    6、试验开始前使用真空泵抽真空,将机器原来的空气抽出并过滤与至新鲜空气一切完整开始试机。  
    4、箱内经过抛光处理经久耐用、美观、不沾污。  
    5、运转时流水自动排出未饱和蒸汽已达到饱和。  
    6、异常原因及故障指示灯显示,设置自动保护LIMIT安全。

    半导体pct老化试验机制造商性能:
    1、测试环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、
    2、 温度范围 105℃ → +132℃、 (控制点)
    3、 温度波动度 ±0、5℃、
    4、 温度偏差 ±2、0℃、
    5、 湿度范围 75% ~ 100 %R、H 、 (控制点)
    6、 湿度波动度 ±2、5 %R、H、
    7、 湿度均匀度 ±5、0%、
    8、 压力范围 0、5~2㎏/㎝2 (0、05~0、196 MPa) (控制点)
    9、 升温时间 常温 → + 132℃ 35 min 、
    10、 升压时间 常压 → + 2㎏/㎝2 40 min

    半导体pct老化试验机制造商用途:
       半导体pct老化试验机制造商又称高压加速老化试验箱,适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。
        半导体pct老化试验机制造商测试其制品的耐厌性,气密性。测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间、
        试样限制本试验设备禁止:易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存。腐蚀性物质试样的试验或储存。强电磁发射源试样的试验或储存。
        艾思荔仪器致力于提供化解决方案以提升客户产品品质,推动中国各行业品质保障事业发展,确立自身的行业地位,进而挤身全球市场。
     郑重承诺!:艾思荔半导体pct老化试验机制造商1年免费保修,免费送货上门,免费安装调试及操作技术培训。《可按客户要求量身订制, 
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